| 王新宇 QQ：2668476640 手机：13390167995 电话：010-64714988-216 传真：010-64714988-668 邮件：tk8@handelsen.cn |
 |
|
KARL DEUTSCH涂层测厚仪(带探头)LEPTOSKOP 2042：
大型图形显示48毫米×24毫米，带照明
校准选项：
出厂前校准，立刻准备测量
校准未知涂层
零点校准
未涂覆基材之一，多箔校准
涂层材料校准
校准数据可以单独存储在单独的校准文件，并可以重新装载
可选的显示模式，以获得适应测量任务
输入和监控限制
Windows下读数存储，方便文件管理
可用的PC软件EasyExport和ICOM
多达999个读数统计评估
最小值，最大值，平均值，读数，标准差，监测极限
局部厚度和平均涂层厚度（DINEN ISO2808）
技术参数：
串行接口：将数据传输到RS232或USB瑗缘ww王王
电源：通过电池，USB或电源装置
测量范围：0 -20000微米（取决于探头）
测量速率：高达每秒2读数
存储：最大9999，读数高达140文件
测量不确定度（校准后）
涂层厚度<100微米：读数+/-1微米的1％
涂层厚度>100微米：读数+/-1微米的1..3％
涂层厚度>1000微米：读数+/-10微米的3..5％
涂层厚度> 10000微米：读数+/- 100微米的5％
型号：
2442.100探头
2442.110探头
2442.120探头
2442.130探头
2442.140探头
2442.200双极探头
2442.300微探探头
2442.310微型探头
2442.320微型探头
2442.330微型探头
2442.340微型探头
2442.350微型探头
2442.410微型探头
2632.002微型探头
KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042参数简介
KARL DEUTSCH涂层测厚仪LEPTOSKOP 2042参数简介
