Optris热像仪PI 08M型 光谱范围 800 nm

optris® PI 08M 热像仪概述：

optris® PI 08M 热像仪的光谱范围为 800 nm，可减少因未知或变化的发射率引起的测量误差。这款红外热像仪结构紧凑，由于其光谱范围以及 575 °C 到 1900 °C 的连续测量范围，几乎适用于所有的 NIR 和 CO2 激光加工应用。帧率为 1 kHz，并具有较高的光学分辨率，能够最佳地适应不同的应用程序。

 

optris PI 08M 短波长红外热像仪可以很好地阻挡 800 nm 以上的辐射，非常适用于激光加工应用。光谱范围为 800 nm，受到周围环境影响的可能性较小，因此即使面对不断变化的发射率，也可以确保测量精确。

 

技术参数：

光学分辨率：

FOV @ 382 x 288 px：

13° x 10° (f = 25 mm)

FOV @ 764 x 480 px：

26° x 16° (f = 25 mm)

热敏性 (NETD)1)：

27 Hz、32 Hz 和 80 Hz 模式 < 2 K (1000 °C)

1 kHz 模式 < 3 K (1400 °C)

精度：读数 ±1 %(<1500 °C)/ ±1.5 % (>1500 °C)

PC 接口：USB 2.0/USB 至 GigE (PoE) 转换选件

高速模拟输出（@ 1 kHz 模式）：

8x8 像素的 0–10 V 实时输出（响应时间 1 ms）

标准过程接口 (PIF)：

0–10 V 输入、数字输入（最高 24 V）、0 – 10 V 输出

可选工业过程接口 (PIF)：

2x 0-10 V 输入、数字输入（最高 24 V）、3x 0–10 V 输出

3x 继电器（0 – 30 V/400 mA），故障安全继电器

电缆长度 (USB)：

1 m（标准）、5 m、10 m

5 m 和 10 m 电缆也可用作 HT 电缆 (180 °C)

 

特征：

特殊窄带光谱响应为800 nm,

几乎是所有 NIR 和 CO2激光加工

应用的理想之选

广泛的测量范围:

575C至1900C，无子范围

高动态 CMOS 检测器，分辨率高达

764x 480 像素

高达1kHz 帧率的快速处理

实时模拟输出，响应时间为1ms

包括功能强大的软件包和 SDK