德国 SFC Koenig 膨胀密封堵头MB 600-120技术参数介绍

 

      压胀式密封堵头是根据压力膨胀原理工作。钢球被压到套筒底部时，钢球使一段套筒产生径向膨胀，轴向应力转变为套筒的径向膨胀效应。此刻，由套筒外围环形槽所形成的尖齿被迫压入周围的工件材料中，从而形成有效的高压无泄漏密封。该元件广泛用于液压和气动元件（阀组、油缸或气缸等）多余流体通道口的封堵。球涨式高压堵头可代替：钢球堵、锥形螺堵、焊接销堵以及带密封垫螺堵等各种各样综合封堵。深孔的封堵尤能体现其优越性。在钢、球墨铸铁、灰口铸铁、铜以及中、高强度铝合金材料的工件上可以得到有效的高压无泄漏密封

 

      拉胀式密封堵头，当安装工具将套筒定位在孔内，同时向往外拉心轴，套筒受力膨胀，心轴在预定受力点被拉断。工件密封式通过套筒外围环形槽所形成的尖齿被迫压入周围的工件材料中而完成

膨胀达到需求尺寸以实现咬合密封工艺孔的目的。安装压胀式堵头时要求工艺孔配 

以沉孔。如果您不确定MB600膨胀密封堵头系列是否适合您的应用程序，请使用我们的产品选择器来识别适合您的规格的最佳孔瑞格膨胀堵头。

 

材料:

 

套筒: 不锈钢 1.4305    钢球: 不锈钢 1.4301

 

    MB 600-030

    MB 600-040

    MB 600-050

    MB 600-060

    MB 600-070

    MB 600-080

    MB 600-090

    MB 600-100

    MB 600-120

    MB 600-140

德国LANGER探测头

   德国LANGER近场探头LANGER EMV-Technik近场探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik测量仪LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik场频信号发生器LANGER EMV-Technik脉冲发生器LANGER EMV-Technik探测头LANGER EMV-Technik电路检测器。

 

     LANGER EMV-Technik是一家在电磁兼容领域（EMC）进行研究开发生产和培训的德国企业。LANGER EMV-Technik的电磁干扰发射和抗干扰能力测量技术以及集成电路测试系统为开发全过程提供支持，在全球范围内广受欢迎。LANGER EMV-Technik公司以其电磁兼容专有知识和测量技术展现出在组件和集成电路开发中的新视角和经济高效的工作策略。LANGER EMV-Technik为近场测试设计的探头，是电磁兼容工程师必备的*基本工具，用于在产品开发期间探测PCB的电磁场情况，近场探头的优点：

多达19个各种形状的探头，可以完成几乎所有的电磁场测试任务；

多种分辨率的探头，实现从粗略定位到精细定位

低成本高性能；

频率范围覆盖100kHz－3GHz；

适用于检查机箱泄漏PCB内部电磁场分布电缆上的电磁场分布等；

使用简单，携带方便。

近场探头的用途：

主要应用于查找干扰源，判定干扰产生的原因。

可以检测器件或者是表面的磁场方向及强度。

可以检测磁场耦合的通道，从而调整连接器或者是显示器位置

可以检测PCB附近的磁场环境情况

 

产品范围：

德国LANGER近场探头LANGER EMV-Technik近场探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik测量仪LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik场频信号发生器LANGER EMV-Technik脉冲发生器LANGER EMV-Technik探测头LANGER EMV-Technik电路检测器

 

主要型号：

德国LANGER BD06B

德国LANGER BD01B

德国LANGER BD01E

德国LANGER BD11

德国LANGER MFA 01

德国LANGER XF 1

德国LANGER SX

德国LANGER MFA01

德国LANGER MFA02

德国LANGER SX1

德国LANGER XF1

德国LANGER XF

德国LANGER RF1

德国LANGER RF2

德国LANGER RF3

德国LANGER RF4-E

德国LANGER RF-E

德国LANGER LF1

德国LANGER LF

德国LANGER PA203

德国LANGER PA303

德国LANGER RFS

德国LANGER VM251

 

MFA 01微型近场探头组简介：

由于集成电路集成度以及时钟速率的不断提高，PCB上存在大量杂散场和杂散电流，并以磁场形式相互耦合，导致产生GHz级别的辐射骚扰。*的CISPR 22标准要求测量到6GHz。由于PCB上大量安装高密度SMD器件，只有使用高分辨率探头，才能真正找出问题所在。

LANGER EMV-Technik公司*推出的新一代手持式有源近场探头（MFA 01），频率范围覆盖1MHz到6GHz，分辨率可达200µm，用于PCB布线元器件和IC引脚的细致的磁场测量，能对集成电路引脚或SMD器件进行选择性的测量，使用MFA-R 0.2-6探头能诊断高频磁场问题，使用MFA-K 0.1-12探头能确定高频电流。所有微型磁场探头都有内置的放大器，BT 706偏置器给放大器提供供电。偏置器的阻抗为50Ω，为微型磁场探头提供稳定的供电（9V/100mA），BT 706带有一个12V/70mA的电源。微型磁场探头以及偏置器采用SMA连接器。

近场探头组MFA 01包括：

H-场探头MFA-R 0,2-6

H-场探头MFA-R 0,2-75

H-场探头MFA-K 0,1-12

偏置器BT 706

电源适配器

SMA-SMA电缆，长度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技术指标：

	频率范围	分辨率	结构	连接器
MFA-R 0,2-75	1MHz～1GHz	300 µm	双水平环	SMA
MFA-R 0,2-6	100MHz～6GHz	300 µm	垂直环	SMA
MFA-K 0,1-12	100MHz～6GHz	200 µm	垂直环	SMA
偏置器BT 706	500kHz～6GHz			SMA

 

SX系列近场探头简介：

SX系列近场探头，用于测量电子模块元器件和IC引脚的高频近场，频率范围可达10GHz。探头内部不含预放，为无源探头，可使用射频电缆连接到预放或频谱分析仪的50欧姆输入端。