德诺伊专业销售langer-emv扫描仪探头RFS系列

       RFS 集

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　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS 设置了三个被动近场探针，用于在电子场和磁场开发过程中用于测量扫描仪。

　　RFS-R 50

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS-R 50 H 场探针设计用于在大约 3 厘米的距离内对组件、设备或电缆进行现场测量。H 场探针可用于识别较大的组件作为干扰源。

　　RFS-R 3-2

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz
汉达森 祁佳强177*4453*6447

　　RFS-R 3-2 扫描仪探头用于直接在组件上高分辨率测量射频磁场，例如围绕引脚和 IC 盒的范围、导路、电容器和 EMC 组件脱钩。

　　RFS-R 0.3-3

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS-R 0.3-3具有小型探头，可以测量高分辨率的磁场。因此，即使是最小的组件也可以被检测为干扰源。此外，小型探头适用于难以到达的点(例如IC引脚附近)的测量。

　　RFS-B 3-2

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　RFS-B 3-2 H 场扫描仪探测器的测量线圈正交排列到探针轴上。这使得探头的位置非常接近组件，并实现强大的耦合。RFS-B 3-2 探测磁场线，磁场线会以极点方式退出测量对象。M...

　　RFS-B 0.3-3

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　扫描仪探头射频-B 0.3-3专为极小规模磁场检测而设计。探头内的线圈位于轴的 90° 角。对于测量，它可以直接定位到测量对象上。

　　射频-E 03

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　使用位于 RFS-E 03 探头底部的大约 4x4 mm 电极，可以检测到来自时钟线、IC 销和较小组件的电子场。

　　射频-E 10 汉达森 祁佳强177*4453*6447

　　扫描仪探头 30 MHz 至 3 GHz

　　RF-E 10 扫描仪探头下方的电极宽度约 0.2 mm，可定位最小的电子场源，例如导电路径，宽度为 0.1 mm，或高引脚 ICs 的单个 IC 销。