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| 品牌langer-emv | 有效期至长期有效 | 最后更新2021-08-16 16:09 |
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德诺伊专业销售langer-emv扫描仪探头LFS-B3
德诺伊专业销售langer-emv扫描仪探头LFS-B3
扫描仪探头 100 kHz 至 50 MHz
德诺伊专业销售langer-emv扫描仪探头LFS-B3
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扫描仪探头 100 kHz 至 50 MHz
简短描述
H 场探针 LFS-B 3 的测量线圈直面位于轴上。垂直使用探针尖端可确保其直接放置在要测量的组件或设备上。
这允许在通常难以访问的印刷电路板表面的位置使用，例如在交换控制器的大型组件之间。
LFS-B 3 是一种被动近场探针，用于扫描仪，用于测量开发过程中的磁场。LFS-B 3 检测从测量对象发射的磁场线 90°。横向进入探针的磁场线未被检测到。近场探针体小且方便。它有一个电流衰减护套，因此，电屏蔽。它可以连接到频谱分析仪或具有 50 Ω输入的示波器。H 场探针的内部终止电阻为 50 Ω。
技术参数
| 频率范围 | 100 kHz...50 MHz |
| 分辨率 | ≈ 2 毫米 |
| 探头尺寸 | • ≈ 4 毫米 |
| 连接器 - 输出 | SMB， 男性， 千斤顶 |
| 频率响应 [dBμV] / [dBμA/m] | ![频率响应 [dBμV] / [dBμA/m]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_frequency%20response_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| H 字段校正曲线 [dB+/m] / [dBμV] | ![H 字段校正曲线 [dB+/m] / [dBμV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_H-field%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| 当前修正曲线 [dB+A] / [dBμV] | ![当前修正曲线 [dB+A] / [dBμV]](https://www.langer-emv.de/fileadmin/Bilder300/Disturbance%20emission_near%20field%20probe_LFS-B%203_Current%20correction%20curve_en_wGM.png?v=1629010834946) |
| 测量原理 |  |
